金纳米互连引线热疲劳行为的实验研究 上传者：qq_35571 2020-03-27 06:31:16上传 PDF文件 670.79KB 热度 36次 金纳米互连引线热疲劳行为的实验研究，李喜德，孙丽娟，随着微电子器件尺寸的急剧减小，大规模集成电路引线结构的特征宽度已达45纳米。对于这样细微的互联引线在电路中工作时，将不可避� 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 发表评论
