论文研究一种基于扫描链重排序的低功耗测试方法 .pdf
一种基于扫描链重排序的低功耗测试方法，周晟，尤志强，随着集成电路规模越来越大，数字电路的功耗已经成为电路设计者考虑的主要问题。本文提出一种基于扫描链重排序的低功耗测试方法，
下载地址
用户评论
