1. 首页
  2. 课程学习
  3. 专业指导
  4. Semiconductor Material and Device Characterization

Semiconductor Material and Device Characterization

上传者: 2019-07-08 19:19:53上传 PDF文件 12.01MB 热度 33次
第三版,涉及:电阻,载流子浓度和掺杂密度,接触电阻和肖特基势垒,串联电阻和沟道长度宽度,阈值电压,缺陷,氧化界面,载流子寿命和迁移率,光学特性,化学物理特性,以及可靠性等多方面问题的研究,是一本优秀的国外半导体物理教程
下载地址
用户评论
码姐姐匿名网友 2019-07-08 19:19:53

不是图像版的,不错

码姐姐匿名网友 2019-07-08 19:19:53

本书结合了材料器件的测试表征,同时介绍了基础知识,对一些问题做了很详细的说明。

码姐姐匿名网友 2019-07-08 19:19:53

经典好书,值得收藏

码姐姐匿名网友 2019-07-08 19:19:53

比较专业的书,英文版,文字清晰非影印版,非常好

码姐姐匿名网友 2019-07-08 19:19:53

介绍半导体很好的教材,很有启发性,多谢楼主!

码姐姐匿名网友 2019-07-08 19:19:53

不是图像版的,不错。