Digital Systems Testing & Testable Design
DigitalSystemsTestingandTestableDesign一书，是全美大学生和研究生优秀教材，比较系统地介绍了结构测试的理论和方法、可测性设计理论和度量方法、测试数据的处理及简化的理论和方法以及智能芯片(处理器、数字信号处理器和自动机等)测试理论和方法等。该书共有15章，分为3部分。前8章为第一部分，主要介绍数字系统、数字微系统芯片缺陷的来源、逻辑描述的方法——故障的建模、故障模拟、测试单固定故障、测试桥接故障、智能数字系统的功能测试及其范围等；第9章～第14章是第二部分，主要介绍数字系统的可测性设计理论和方法、建内自测试BIST测试数据压缩方法等现代测试理论和方法；第15章足第三部分，主要讨论系统测试的方法。该书概念清晰层次分明、
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用户评论
这正是我需要的书，是集成电路测试方面很经典的书
这本书极好，书本身就是学习测试的经典书籍，该资源也是清晰版，非常值得下载。无论对于初学测试还是想更进一步深入了解测试原理的都很有帮助。
是集成电路测试方面很经典的书
非常棒，就是我想要的书 感谢
好书，好书里面推荐的好书
可以用 正是我想找的书...
嗯，我可以打开啊。正在上一门testing的课，省了一大笔的教材钱，非常感谢楼主的分享。
为什么我打不开。。。。
这个太有用了！！！。买一本要好多钱。。。120美元啊。。。。
可以用 正是我想找的书...