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论文研究一种有效的老化路径约减方法 .pdf

上传者: 2020-01-03 15:38:22上传 PDF文件 312.92KB 热度 21次
一种有效的老化路径约减方法,邢璐,梁华国,随着CMOS集成电路工艺尺寸的不断缩小,电路可靠性问题日益严重,而由NBTI效应引起的电路老化问题尤其突出。由于实际电路大多比较复�
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用户评论
码姐姐匿名网友 2019-05-31 18:56:30

TCP/IP使用详解,中文扫描版,内容丰富,清晰度一般,无书签,