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论文研究软错误与老化在线并发检测器 .pdf

上传者: 2020-01-03 15:37:32上传 PDF文件 331.07KB 热度 18次
软错误与老化在线并发检测器,杨叔寅,黄正峰,CMOS工艺尺寸不断缩减,NBTI为主导的老化效应以及SEU等软错误日益明显,影响着器件的正常工作。针对老化造成的时序违规故障及SEU故障�
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