数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 上传者：yungucao 2019-07-13 03:42:55上传 RAR文件 7.65MB 热度 41次 数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计数字集成电路与嵌入式内核系统可测试性设计 下载地址 用户评论 更多下载 下载地址 立即下载 用户评论 码姐姐匿名网友 2019-07-13 03:42:55 已经过期了，无法阅读 码姐姐匿名网友 2019-07-13 03:42:55 超星的，很老的书，但内容很好 码姐姐匿名网友 2019-07-13 03:42:55 打不开,过期了，无法阅读 码姐姐匿名网友 2019-07-13 03:42:55 打不开，pdg文件，超星说过期了。 码姐姐匿名网友 2019-07-13 03:42:55 非常难得，只用300多页但是从d 算法一直讲到Lbist，重要点全覆盖而且讲得详略得当。 上手的好书，非常推荐给入门DFT的工程师和从事ATE测试工作的人员参考。 码姐姐匿名网友 2019-07-13 03:42:55 重点突出，言简意赅 码姐姐匿名网友 2019-07-13 03:42:55 非常难得，只用300多页但是从d 算法一直讲到Lbist，重要点全覆盖而且讲得详略得当。 上手的好书，非常推荐给入门DFT的工程师和从事ATE测试工作的人员参考。 发表评论
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超星的，很老的书，但内容很好
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非常难得，只用300多页但是从d 算法一直讲到Lbist，重要点全覆盖而且讲得详略得当。 上手的好书，非常推荐给入门DFT的工程师和从事ATE测试工作的人员参考。
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